Картка документу

СПОСІБ ВИЗНАЧЕННЯ ТЕМПЕРАТУРИ ЕЛЕКТРОНІВ У ПЛАЗМІ

Патент на корисну модель

(51)

МПК
G01R 1/06 (2006.01)

(11)

37585

(22)

03.01.2008

(24)

10.12.2008

(21)

u200800150

(46)

10.12.2008, бюл. № 23

(71)

НАЦІОНАЛЬНИЙ АЕРОКОСМІЧНИЙ УНІВЕРСИТЕТ ІМ. М.Є.ЖУКОВСЬКОГО "ХАРКІВСЬКИЙ АВІАЦІЙНИЙ ІНСТИТУТ"

НАЦИОНАЛЬНЫЙ АЭРОКОСМИЧЕСКИЙ УНИВЕРСИТЕТ ИМ. М.Е.ЖУКОВСКОГО "ХАРЬКОВСКИЙ АВИАЦИОННЫЙ ИНСТИТУТ"

"KHARKIV AVIATION INSTITUTE" M. ZHUKOVSKYI NATIONAL AERO-SPACE UNIVERSITY

(72)

Огієнко Сергій Анатолійович

; Сетракова Яна Олексіївна

Огиенко Сергей Анатольевич

; Сетракова Яна Алексеевна

Ohienko Serhii Anatoliiovych

; Sertakova Yana Oleksiivna

(73)

НАЦІОНАЛЬНИЙ АЕРОКОСМІЧНИЙ УНІВЕРСИТЕТ ІМ. М.Є.ЖУКОВСЬКОГО "ХАРКІВСЬКИЙ АВІАЦІЙНИЙ ІНСТИТУТ"

НАЦИОНАЛЬНЫЙ АЭРОКОСМИЧЕСКИЙ УНИВЕРСИТЕТ ИМ. М.Е.ЖУКОВСКОГО "ХАРЬКОВСКИЙ АВИАЦИОННЫЙ ИНСТИТУТ"

"KHARKIV AVIATION INSTITUTE" M. ZHUKOVSKYI NATIONAL AERO-SPACE UNIVERSITY

(98)

Національний аерокосмічний університет ім М.Є. Жуковського "ХАІ", патентний відділ
вул.Чкалова, 17, м.Харків, 61070, Україна